杭州AC电源插座表面测量解锁nanomachine潜力

英国华威大学的科学家已经想出一个新的方法来提高测量的组件的表面要求用于高精度和纳米技术的应用程序。

与要求的小配件,更高的性能,更强调其表面产生高附加值的产品。

据英国华威大学,两个新兴的后果是使用模式和结构的表面,和复杂的形式,两者都必须控制以优化地区如润滑、粘连和光学性能。

这些改进的关键是测量这些表面为了制造高精密最小的缺陷,这是对传统测量技术问题。

一个新的想法构思教授大卫·怀特豪斯工程学院的华威大学据说承诺成为第一步解决这些新的测量问题。

他设计了一个基于高斯滤波技术,但这有一个新的数学策略描述在《皇家学会学报》上。这个技术是类似于图像分析,除了它考虑几何而不是强度变化。

他在一份声明中说,“这项技术提高特征鲜明,本质上是现在高科技结构化表面如边缘,凹槽和边界的方式使他们的详细的几何形状和位置是更好比以前的方法决定的。”

据说这个技术还可以便于检测和描述,对表面缺陷。

结构化和自由曲面的应用程序可在大范围的大小,例如在光学、半导体、涡轮机和纳米技术可能,如果意识到它的潜力,方法直接受益。

摘要理论改进的高斯滤波工程表面,可以在这里找到。

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