自动化wafer-level测量流线型

Keysight技术推出了WaferPro表达2015年,测量软件平台自动化wafer-level设备和电路元件的特性。

通过有效地控制所有组件在wafer-level测量系统(仪器和硅片探测器),WaferPro表达降低了测量设置的复杂性,提供了一个统一的平台,高效的自动化测量和数据管理。

大容量wafer-level测量不再是独家半导体生产地板。今天,许多研发团队测量大容量数据应用,如设备建模、过程监控、可靠性和组件特性;通常在不同的温度。结果,自动探测器正在成为标准研发设备描述实验室。

关键突破2015年WaferPro表达是其集成与级联Microtech Velox 2.0探针台控制软件。WaferPro表达和Velox 2.0集成通过级联Microtech WaferSync,联合开发双向通信链路。该链接允许完整的晶片地图同步,使容易,无错的软件之间的信息交换,包括晶片对齐,网站和死亡信息。

新WaferPro表达链接Velox 2.0,再加上可用性改进,允许测试工程师快速建立测量系统。在射频测量进一步最大化效率,WaferPro表达定期监测射频校准的稳定性。这样做可以减少所花费的时间收集不准确的数据。

“WaferPro表达2015年是通过我们的合作与级联Microtech和代表了我们的一个重要里程碑计划提供Wafer-level测量解决方案给我们的客户,”查尔斯·普罗特说,营销经理Keysight EEsof EDA。“Wafer-level测量解决方案项目提供客户保障系统配置,安装和支持。WaferPro表达是程序的核心软件,连接所有的系统组件和为客户提供他们所需要的灵活性去他们第一次测量迅速。”

一个典型Wafer-Level测量解决方案(WMS)配置直流/射频测量包括Keysight机构或PNA-X网络分析仪和B1500A半导体器件参数分析仪结合级联Microtech晶圆探针台、WinCal XE校准软件和阻抗标准底物校准。WMS添加配置和优化的精确和可重复的设备和组件特性。验证执行的新安装的系统,使用新的Keysight验证衬底(千伏)。每个千伏完全在工厂和功能特征标准设备后,工程师们可以用G-S-G探测器探测射频校准。WaferPro表达措施2015千伏变电站在初始系统验证过程。然后,通过比较测量和工厂数据,经过认证系统的正确操作。

其他新功能包括支持噪声图测量和进口的能力测试例程使用Keysight开发IC-CAP建模和测量软件。新的噪声图测量能力补充软件现有的增益压缩,深浅不一的互调失真和参数测量当前可用的最新Keysight PNA-X仪器驱动程序。

关于WaferPro表达

WaferPro表达降低了研发的复杂性度量通过提供一个商业平台,管理测试计划,并允许用户方便地保存、显示和监控数据。数以万计的成套提供司机,这样用户可以快速执行标准测量。进一步的Python编程环境提供的定制。Python脚本通常是开发分析测量数据,计算和保存价值的关键数据,定制数据监测和用自定义算法代替或补充内置仪器驱动程序。

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