Anritsu提供turnkey LTE M2M测量解决方案。
Anritsu宣布为通用无线测试集MT8870A发布一个LTE类M软件版本,以支持LTE类M设备的RF测试。
该版本包括M FDD Uplink Tx测量软件(MX887065A)、M型FDD Downlink波形文件(MV887065A)和全自动测量程序,提供快速和自动测试(Tx功率、频率、调制精度、调制灵敏度等),符合3GPP LTE类M RF测试规范。
LTE是一种基于许可频带LPWA的无线技术,它与NB-IoT并行。除了预期的智能城市和货运跟踪应用,由于它对语音通信的支持,预计它将被紧急警报系统采用。但是,平稳推出这项服务的一个关键问题是保证高质量的生产效率,以帮助降低终端成本。LTE类M设备的测量可以通过一个程序实现自动化,以控制内置在目标设备中的芯片组,但是,到目前为止,这些程序需要为每个客户定制开发。
与芯片组供应商紧密合作,为LTE类M设备建立测量技术,Anritsu能够开发出一种交钥匙解决方案,在不需要客户开发的控制程序的情况下,为多达4个LTE类M设备和芯片组提供高质量的自动评估。
通用无线测试集MT8870A是一种大规模生产各类无线通信设备和模块的测量仪器。在主单元中安装了四个高性能测试单元,每个单元都支持并行独立测量,以评估多达四种无线设备和模块。MT8870A已经完全支持2G/3G/LTE/LTE- advanced /NB-IoT、WLAN/蓝牙、GPS和FM评估。
在通用无线测试集MT8870A中安装这些软件包,为测试和评估在大规模生产线上高速运行的4个NB-IoT设备和模块的射频TRx特性提供了第一个turnkey自动测量解决方案。自动测量程序消除了开发控制程序和将开发时间缩短为零的需要。
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